Applikationsbericht | EMV-Nahfeldsonden-Messungen

dataTec Applikationsbericht | EMV-Nahfeldsonden-Messungen

Applikationsschrift :: EMV-Nahfeldsonden-Messungen. Signalanalysator und HD-Oszilloskop im Vergleich

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Produktinformationen "Applikationsbericht | EMV-Nahfeldsonden-Messungen"

Applikationsschrift :: EMV-Nahfeldsonden-Messungen. Signalanalysator und HD-Oszilloskop im Vergleich

Die Notwendigkeit entwicklungsbegleitender EMV-Messungen ist zwischenzeitlich in der Industrie akzeptiert und gängige Praxis. EMV-Messungen sind verpflichtend und die Wahrscheinlichkeit bei der abschließenden Prüfung durchzufallen ist groß, wenn nicht schon Entwicklungsmuster und Prototypen getestet wurden. Die Verbreitung schneller serieller Busse hat zur Ablösung der einst typischen 100- oder 300-MHz-Entwickler-Scopes durch Geräte mit 1 GHz oder mehr Bandbreite geführt.

Bisher war der Kauf zumindest eines Einstiegsmodells eines Signalanalysators mehr oder weniger alternativlos.

Oszilloskope sind aber vielseitiger einsetzbar und in vielen Elektronik-Entwicklungsabteilungen bereits vorhanden. Gleichzeitig hat die Verbreitung schneller serieller Busse zur Ablösung der einst typischen 100- oder 300-MHz- Entwickler-Scopes durch Geräte mit 1 GHz oder mehr Bandbreite geführt. Es wäre also wünschenswert, auch für EMV-Messungen ein solches Gerät zu verwenden.

Gegen diese Anwendung sprachen bisher die fehlende Eingangsempindlichkeit und der eingeschränkte Dynamikbereich. Obwohl eine FFT Funktion mittlerweile zum Standardumfang eines modernen Scopes gehört, war es doch mühsam, im Zeitbereich die Parameter richtig zu setzen, um dann im Frequenzereich die richtige Darstellung und Aulösung zu erhalten. Für die Elektromagnetische Verträglichkeit sind jedoch viele Einstellungen im Frequenzbereich defniert und man muss Parameter wie zum Beispiel Start und Stopp-Frequenz sowie die Auflösebandbreite (Resolution Band Width; RBW) am besten direkt eingeben können.

Nahfeldsonden sind die typischen Antennen, die für entwicklungsbegleitende Messungen zum Einsatz kommen. Diese Sonden wandeln in einer kleinen Spule das im Nahbereich dominante magnetische Feld der elektromagnetischen Welle in eine messbare Spannung. Es gibt zum einen rein...

Autor: Tomas Lange / Keysight
Erschienen: Elektronik Industrie | Ausgabe 10/2014

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