Keysight E5071C-TDR | Option Enhanced Time Domain Analysis für E5071C

Option Enhanced Time Domain Analysis für E5071C

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Keysight E5071C-TDR | Augendiagramm-Darstellung mit Erweiterter Zeitbereichsanalyse für...

Produktinformationen "E5071C-TDR | Option Enhanced Time Domain Analysis für E5071C"

Keysight E5071C-TDR | Augendiagramm-Darstellung mit Erweiterter Zeitbereichsanalyse für Netzwerkanalysator E5071C.

Digitale Übertragungssysteme wie z. B. USB 3.0, HDMI, GBit-Ethernet, LVDS, PCI Express u.w. erfordern Test-Systeme in der Entwicklung und Produktion, die es ermöglichen, sehr schnell, leicht und zielsicher die Übertragungsqualität zu messen. Ein Augendiagramm gibt Aufschluss über die Verbindungsqualität.

Mit nur einem Gerät, dem Netzwerk-Analysator E5071C in Verbindung mit der TDR (time domain reflektometer) Option, erhält man das Testergebnis deutlich einfacher, schneller und vor allem kostengünstiger als mit den Lösungen, an die ein Digitaltechniker typischerweise denkt. Zugegeben es ist für ihn ungewohnt - Hochfrequenztechnik ist für ihn ein „Buch mit sieben Siegeln". Aber mit der Option TDR wird die Bedienung und Einstellung des Netzwerk-Analysators E5071C zum Kinderspiel.

In nur 4 Schritten lässt sich das Ergebnis als Augendiagramm auf den Bildschirm „zaubern" - verlässlich, fehlerfrei und präzise. Gut/Schlecht-Analysen lassen sich durchführen und auch die Parameter zur Qualifizierung der Signalstrecke und die Jitter-Gegebenheiten, um die Abstände zu den Toleranzgrenzen zu erkennen, lassen sich ändern.
Fehlanpassungen der Impedanzen einzelner System-Baugruppen zueinander können bei diesem Digitalen Übertragungssystem sehr schnell zu Systemausfällen führen, da die jeweils reflektierten Signalanteile die Weite des Augendiagramms reduzieren. Damit kommt das System wesentlich schneller an die Grenzen. Mit der Lösung E5071C-TDR lässt sich auch dieses qualifizieren und entsprechende Abhilfe schaffen.

Anwendungen:

  • zum Qualifizieren von sehr schnellen Verbindungsstrecken durch eine Augendiagramm-Darstellung
  • Testen der Signalqualität von LVDS Strecken auf Chip-to-Chip Ebene oder über Kabel
  • testet die Produkte in Bezug auf die Übertragungsprotokolle wie z. B. USB 3.0, HDMI, GBit-Ethernet, LVDS, PCI Express, SAS, SATA, MIPI, DisplayPort und weitere
  • Produkttest, ob die Anforderungen z. B. einer „backplane" (Geräte-Bus-Platine) den Anforderungen genügt
  • Host-/Baugruppen Messungen zu digitalen Übertragungen
  • Kabel-Test z. B. HDMI
  • Reflektions- und Impedanz-Anpassungs-Messungen
  • Gut /Schlecht-Analyse

Ausstattung und Highlights:

  • Einfache und intuitive Bedienung
  • ESD-geschützte Eingänge (bis 3000 V)
  • Simultane Messungen im Zeit- und Frequenz-Bereich
  • Augendiagramm-Messungen ohne zusätzlichen Bitmuster-Generator
  • Analyse des „gestressten Augendiagramms" mit Signalüberhöhung, Entzerrer, Jitter-Generator
  • Impedanz-Analyse aktiver Komponenten und Baugruppen unter den gegebenen Einsatzbedingungen
  • Messbare Signal-Anstiegszeiten von 22,3 ps was einer Bandbreite 20 GHz entspricht
  • Ausgangs-Dynamik-Bereich >100 dB zum Test des DUT (device under test)
  • Sehr geringes Eigenrauschen 20 µVrms
  • Schnelle Messungen zur Echtzeit-Analyse 41 ms bei 1601 Messpunkten bei einer 2-Tormessung
  • Integrierte Kalibrierungs-Routinen verhindern Messfehler
  • Jeder E5071C lässt sich entweder auf höhere Bandbreite oder/und mit der entsprechenden Applikation erweitern
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