Keysight E4991B | HF-Impedanz- / Materialanalysator, 1 bis 500 MHz / 1 / 3 GHz

Herstellernummer: E4991B

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Der Hochfrequenz-Impedanz/Material-Analysator E4991B bietet sehr hohe Messgenauigkeit und eine...

Produktinformationen

Keysight E4991B | Hochfrequenz (RF) Impedanz- & Material-Analysator zur einfachen Bestimmung der Bauteil-Impedanz und der Material-Eigenschaften im Hochfrequenzbereich von 1MHz bis 500 MHz/1 GHz/bis maximal 3 GHz.

Der Hochfrequenz-Impedanz/Material-Analysator E4991B bietet sehr hohe Messgenauigkeit und eine Vielzahl integrierter Messfunktionen, wobei Messungen im ms-Bereich erfolgen. Der Frequenzbereich dieser Geräteserie beginnt bei 1 MHz und kann optional bis 500 MHZ / 1 GHz oder 3 GHz reichen. Viele zusätzlich erhältliche Adapter für den Bauteile- und Material-Test komplettieren das Testsystem zu einer flexiblen und auf viele Anwendungen zugeschnittene Gesamtlösung.

Als Industriestandard wird das Gerät in der Entwicklung, Forschung, Produktion und im Prüffeld eingesetzt, um z. B. Kapazitäten, Ferrite, Spulen, Drosseln, Widerstände, Kristall-/Ceramik-Resonatoren zu vermessen. Bei Halbleitertests lassen sich auch die spannungsabhängigen Kapazitäten oder der Widerstand bei Varaktor-Dioden vermessen. Bei Materialtests lassen sich die dielektrischen und magnetischen Materialkonstanten (ε und μ) oder der Verlustwinkel tanδ ermitteln.

Ausstattung und Highlights:

  • Frequenzbereich: beginnend bei 1 MHz und optional selektierbar bis 500 MHz / 1 GHz oder 3 GHz (Optionen 050/100/300)
  • Impedanzbereich: 120 mΩ bis 52 kΩ (Genauigkeit 10 %)
  • Messung der Impedanz-Parameter: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, V ac, I ac, V dc, I dc
  • Messung der Material-Parameter:  |εr|, εr', εr'', tanδ(ε), |μr|, μr', μr'', tanδ(μ) (dafür ist Option 002 notwendig)
  • Grundgenauigkeit der Impedanzmessung:  ± 0,65 %
  • Messzeit: 3,6 ms/Messpunkt
  • Anzahl der Messpunkte: 2 bis 1601
  • Kanalzahl / Kurvenzahl: 4 Kanäle / 4 Signalkurven
  • Messungen hoher Güte  (Q-Messungen) ermöglichen das Vermessen von Materialien mit sehr geringen Verlusten
  • Messung der Dielektrizitätskonstante und Permeabilität von Materialien in einem Frequenzbereich von 1 MHz bis 1 GHz (Option 007)
  • Oszillatorausgang:  4.47 mV rms bis 502 mV rms bzw. 89.4 μArms bis 10 mA rms  bzw. -40 dBm bis +1 dBm
  • Optionale Gleichspannungsversorgung (Option 001):  0 V bis ± 40 V / 100 mA bei einer Auflösung von 1 mV bzw. 40 µA 
  • Sweep Parameter: Frequenz, Signal-Pegel (V/I), Gleichstromversorgung (V/I, Option 001 ist dafür nötig)
  • Sweep-Art: linear, logarithmisch, segmentiert
  • Kompensation der Testadapter
  • Marker: 10 unabhängige Marker pro Signalkurve
  • Test gegen Grenzlinien / Grenzwerte
  • Interfaces: USB (frontseitig 2, rückseitig 4), LAN, USBTMC, GPIB, 24 bit I/O
  • 26,5 cm Touch Screen Farb-LCD TFT-Display

Optionen:

  • Option 001: Stromversorgung 0 V bis ± 40 V für das zu testende Objekt
  • Option 002: Test-Set für Messungen der dielektrischen oder magnetischen Material-Parameter
  • Option 007: Test-Set zur Aufnahme der Temperaturcharakteristik eines Parameters; Temperaturbereich von -55 °C bis +150 °C.  
  • Option 010: Diese Option bietet für „On-Waver-Messungen" ein Verbindungs-Set, um Impedanz-Messungen durchführen zu können.

Anwendungsbereiche:

  • im Labor
  • in der Bauteile- und Material-Entwicklung für:
    - passive Komponenten wie keramische Kondensatoren, Widerstände, Hochfrequenzspulen , Ferrit-Elemente
    - Halbleiter: Charakterisierung der Eingangs-Kapazitäten versus Eingangs-Spannung und z. B. Messung des äquivalenten Serienwiderstandes (ERS, Equivalent Series Resistance) von Varactor-Dioden
    - Materialtests wie die Messung der Dielektrizitätskonstanten und die Bestimmung des Verlustwinkels von Plastik-, Keramik-, Leiterplatten- und anderen dielektrischen Materialien sowie die Messung der Permeabilität und des Verlustwinkels von Ferriten, amorphen und magnetischen Materialien
  • in der Produktion
  • in der Produktionsvorbereitung
  • in der Ausbildung 
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