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Flir - EDP1000 - LITe S Lock-In Thermografie A35sc Wärmebildkamera Kamera, Software, Signalgenerator, Stromversorgung
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Flir EDP1000 LITe S Lock-In Thermografie A35sc Wärmebildkamera Kamera, Software, Signalgenerator, Stromversorgung

edevis LITe-S | Berührungslose Elektronikprüfung, Lock-In Thermografie bestehend aus Software, Signalgenerator, Wärmebildkamera FLIR A35sc, Labor-Stromversorgung und Tablet Microsoft Surface PRO4. Aktive Therm...
Weitere Produktdetails ...
LITe S Lock-In Thermografie A35sc Wärmebildkamera Kamera, Software, Signalgenerator, Stromversorgung

edevis LITe-S | Berührungslose Elektronikprüfung, Lock-In Thermografie bestehend aus Software, Signalgenerator, Wärmebildkamera FLIR A35sc, Labor-Stromversorgung und Tablet Microsoft Surface PRO4.

Aktive Thermografie: Mit der Lock-In Thermografie wird das zu prüfende Bauteil bei ihren Anwendungen zusätzlich durch einen Signalgenerator mit einer festen Zeitbasis thermisch angeregt. Dadurch wird ein sehr geringer Wärmefluss im Prüfobjekt erzeugt und kann ausgewertet werden. Mit der Lock-In Thermografie werden so selbst minimalste thermische Auffälligkeiten in Bauteilen sichtbar gemacht.

Die Lock-in-Thermografie ist frequenzselektiv, d. h., sie spricht nur auf Temperaturänderungen bei der spezifischen Anregungsfrequenz an. Das durch eine pixelweise diskrete Fourieranalyse erhaltene Bild zeigt die thermischen Strukturen sehr detailliert an.

Fehlerhafte Halbleiterbauteile oder Leiterplatten zeigen meist Anomalien im thermischen Verhalten, verursacht durch lokale Leistungsverluste. Diese Unregelmäßigkeiten lassen sich durch Verwendung der Infrarotthermografie sichtbar machen und für Fehleranalyse zielgerichtet einsetzen. Die Lockin-Thermografie lässt sich im Bereich der Analyse von ICs, Transistoren, Solarzellen und passiver Bauelemente einsetzen.

Das LITe System nutzt die Lock- In-Technik, um die Bestimmung kleinster Leistungsdissipationen zu ermöglichen und Fehler örtlich sehr präzise zu lokalisieren. Die Kombination leistungsfähiger FLIR Infrarotkameras mit dem bewährten edevis Lock-In-System ermöglicht Auflösung von Temperaturunterschieden im μK-Bereich.

Anwendungen in der Elektronik

  • Bestimmung der Oberflächentemperatur, Erkennung von Hotspots
  • Erkennung unterschiedlicher Materialien
  • Erkennung elektrischer und mechanischer Defekte
  • Anwendung an Solarzellen
  • Auffinden von Kurzschlüssen (Shunt-Hunting)
  • Qualität von Solar-Modulen (Ladungsträgerlebensdauer)

Ausstattung und Highlights LITe S:

  • Software:
    - Echtzeit-Datenerfassung als Video oder Lock-In-Aufnahme
    - Drei verschiedene Farbpaletten für Falschfarben- und Grauwertdarstellung
    - Export in diverse Bildformate
    - Windows 64 Bit Anwendung
  • Signalgenerator:
    - Ausgabe von Analogsignalen von 1 Hz bis 10 kHz
    - Ausgangsspannung: 0 bis 10 V
    - Max. Strom: 20 mA
    - Trigger-Anschluss für FLIR A35sc
  • Wärmebildkamera FLIR A35sc:
    - Detektor: 320 × 256 Pixel
    - NETD: 50 mK
    - Bildwiederholrate: 60 Hz
    - Objektiv: 9 mm
    - Arbeitsabstand (minimal): 80 mm
    - Maximale Ortsauflösung: ca. 250 μm
  • Labor-Stromversorgung:
    - 42 V / 6 A (max. 100 W)
    - Restwelligkeit: 9 mV RMS
  • Datenerfassung:
    - Tablet Microsoft Surface PRO4 mit Type Cover und Surface Dock
    - Ausstattung: Core i5 / 128 GB SSD /8 GB RAM
Bestellbar
EUR 13.318,50 + MwSt   
Menge:
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edevis LITe-S | Berührungslose Elektronikprüfung, Lock-In Thermografie bestehend aus Software, Signalgenerator, Wärmebildkamera FLIR A35sc, Labor-Stromversorgung und Tablet Microsoft Surface PRO4.

Aktive Thermografie: Mit der Lock-In Thermografie wird das zu prüfende Bauteil bei ihren Anwendungen zusätzlich durch einen Signalgenerator mit einer festen Zeitbasis thermisch angeregt. Dadurch wird ein sehr geringer Wärmefluss im Prüfobjekt erzeugt und kann ausgewertet werden. Mit der Lock-In Thermografie werden so selbst minimalste thermische Auffälligkeiten in Bauteilen sichtbar gemacht.

Die Lock-in-Thermografie ist frequenzselektiv, d. h., sie spricht nur auf Temperaturänderungen bei der spezifischen Anregungsfrequenz an. Das durch eine pixelweise diskrete Fourieranalyse erhaltene Bild zeigt die thermischen Strukturen sehr detailliert an.

Fehlerhafte Halbleiterbauteile oder Leiterplatten zeigen meist Anomalien im thermischen Verhalten, verursacht durch lokale Leistungsverluste. Diese Unregelmäßigkeiten lassen sich durch Verwendung der Infrarotthermografie sichtbar machen und für Fehleranalyse zielgerichtet einsetzen. Die Lockin-Thermografie lässt sich im Bereich der Analyse von ICs, Transistoren, Solarzellen und passiver Bauelemente einsetzen.

Das LITe System nutzt die Lock- In-Technik, um die Bestimmung kleinster Leistungsdissipationen zu ermöglichen und Fehler örtlich sehr präzise zu lokalisieren. Die Kombination leistungsfähiger FLIR Infrarotkameras mit dem bewährten edevis Lock-In-System ermöglicht Auflösung von Temperaturunterschieden im μK-Bereich.

Anwendungen in der Elektronik

  • Bestimmung der Oberflächentemperatur, Erkennung von Hotspots
  • Erkennung unterschiedlicher Materialien
  • Erkennung elektrischer und mechanischer Defekte
  • Anwendung an Solarzellen
  • Auffinden von Kurzschlüssen (Shunt-Hunting)
  • Qualität von Solar-Modulen (Ladungsträgerlebensdauer)

Ausstattung und Highlights LITe S:

  • Software:
    - Echtzeit-Datenerfassung als Video oder Lock-In-Aufnahme
    - Drei verschiedene Farbpaletten für Falschfarben- und Grauwertdarstellung
    - Export in diverse Bildformate
    - Windows 64 Bit Anwendung
  • Signalgenerator:
    - Ausgabe von Analogsignalen von 1 Hz bis 10 kHz
    - Ausgangsspannung: 0 bis 10 V
    - Max. Strom: 20 mA
    - Trigger-Anschluss für FLIR A35sc
  • Wärmebildkamera FLIR A35sc:
    - Detektor: 320 × 256 Pixel
    - NETD: 50 mK
    - Bildwiederholrate: 60 Hz
    - Objektiv: 9 mm
    - Arbeitsabstand (minimal): 80 mm
    - Maximale Ortsauflösung: ca. 250 μm
  • Labor-Stromversorgung:
    - 42 V / 6 A (max. 100 W)
    - Restwelligkeit: 9 mV RMS
  • Datenerfassung:
    - Tablet Microsoft Surface PRO4 mit Type Cover und Surface Dock
    - Ausstattung: Core i5 / 128 GB SSD /8 GB RAM

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