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Keysight - N5393D - PCIe 1.0, 1.1, 2.0 und 3.0 Compliance Applikation für Infiniium Oszilloskope

Keysight N5393D PCIe 1.0, 1.1, 2.0 und 3.0 Compliance Applikation für Infiniium Oszilloskope

Keysight N5393D | PCI EXPRESS® Software zur Validierung der elektrischen Leistungsfähigkeit und Compliance-Software mit Infiniium-Oszilloskope von Keysight. Diese Software ...
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PCIe 1.0, 1.1, 2.0 und 3.0 Compliance Applikation für Infiniium Oszilloskope

Keysight N5393D | PCI EXPRESS® Software zur Validierung der elektrischen Leistungsfähigkeit und Compliance-Software mit Infiniium-Oszilloskope von Keysight.

Diese Software N5393D PCI EXPRESS bietet eine sehr einfache Methode, um Ihre PCI-EXPRESS-Designs zu validieren. Die zu testenden Module werden automatisiert nach den notwendigen Testbedingungen getestet und Fehler in einer Tabelle dargestellt. Ebenso werden die Tollerranzgrenzen und der Abstand zu diesen Grenzen, als auch eine Pass/Fail-Analyse aufgezeigt, so dass Sie ersehen können, ob marginale Abstände zu den Grenzen evtl. zu einem Problem führen können.

Diese Software N5393D enthält auch Test-Routinen, die es erlauben die Übertragungseinheiten nach PCI EXPRESS 3.0 BASE bei 8 GT/s zu testen, incl. Tests von unkorreliertem Jitter und kalkulierte Entzerrungen und Überschwingen bei entsprechenden Takt-Tests durchzuführen.
Die Testsoftware bietet auch in der Q-Domäne eine Dual-Dirak-Methode für das Separieren von Jitter, gemäß der elektromechanischen Spezifikation PCI EXPRESS 2.0 Card. Die sichert Ihre Gen 2 Messungen und bietet die Übereinstimmung mit den PCI-SIG-Test-Software. Für die GEN1-Messungen kann optional mit der Software N5393D die Taktrückgewinnung nach der offizeillen PCI-SIG-Qualitäts-Test-Methode erfolgen. Für die PCI EXPRESS 3.0-Messungen setzt die Software neue Algorithmen zur Berechnung von PCIe 3.0-spezifischen Parameter ein wie:

  • TX Unit Intervall
  • Full Swing TX Spannung mit: no TxEQ
  • Minimum swing während EIEOS für volle Amplitude
  • TX unkorrelierter Jitter
  • TX unkorrelierter deterministischer Jitter
  • TX unkorrelierter Puls-Breiten-Jitter
  • TX deterministischer DjDD unkorrelierter Puls-Breiten-Jitter
  • TX pseudo-Paket-Verlust
  • Messung der Vorverzerrung und von für TXEQ Voreinstellungen
  • TX DC Gleichtakt-Spannung
  • TX AC Gleichtakt-Spannung - 4 GHz, 300 kHz bis 500 MHz
  • TX absolutes Delta von DC Gleichtakt-Spannungen
  • TX absolutes Delta von DC Gleichtakt-Spannungen während L0 und Leerblöcken (idle)

Zudem enthält die Software für PCIe 3.0 auch einen weiten Bereich nach der PCI-EXPRESS 1.0a, 1.1*, und 2.0 für neue Silikon Zusatzkarten und Geräteplatinen wie sie in dem Kapitel 4 der Dokumentation der Basis- als auch der Card-Spezifikationen enthalten ist.  Ferner enthält sie auch Tests nach Spezifikation PCIe 2.0, um die genauesten Messungen nach den Spezifikationen Gen2 PCI Express durchführen zu können. Messungen mit Amplituden von 800 mV (full swing) als auch die Low-Power-Messungen nach (400mV) gemäß den „PCI EXPRESS Architecture Mobile Graphics Low-Power Addendum" nach „PCI EXPRESS Base Specification Revision 1.0" sind möglich.

Die Option 004 zur Software N5393D unterstützt auch den Setup mit den N4903B JBERT Bitfehler-Messgerät als auch den 81150A Puls-Funktions-Arbiträr-und-Rausch-Generator zum Test der Empfängereinheiten.

Zur Validierung wird auch die Software E2688A „High Speed Serial Data Analysis" benötigt, die CBB oder CLB2-Testaufnahmen als auch ein  Infiniium-Oszilloskop der Serien 90000A (6 GHz oder höher und der Firmware 3.01 oder höher) oder 90000-X als auch die aktiven Oszilloskop-Tastköpfe nebst den zugehörigen SMA/SMP-Kabel. 

Ausstattung und Highlights: 

  • Integrierte automatische  Empfänger-Test-Kalibrierung für N4903B JBERT; verfügbar als Option
  • Test setup-Wizard führt Sie durch die Auswahl an Tests, die Konfigurationen, Verbindungen, die Durchführung und durch das Erstellen von Messprotokollen
  • Die notwendigen Messverbindungen werden auf dem Display aufgezeigt
  • Die Test-Reports enthalten die Test-Konfiguration, die durchgeführten Messungen, pass/fail-Status, eine Analyse, wie weit die Toleranzgrenzen vom Messwert entfernt sind und die Signalformen.
  • Schalt-Lösungen für automatisierte Messabläufe 

Unterstützte Standards:

  • PCI EXPRESS® 1.0, 1.1, 2.0 und 3.0 Tests
  • Weiter Bereich an elektrischen Tests werden unterstützt, deutlich mehr wie in SIG TEST gefordert
  • Testübereinstimmung mit SIG TEST nach 1.0a, 1.1 und 2.0 Analyse
  • Unterstützt den Einsatz und die dadurch bedingten Signalveränderungen von Test-Adaptern und Kabel. Allerdings ist dafür die Software N5465A „InfiniiSim Waveform Transformation Toolset" nötig

Voraussetzungen:

  • PCI-SIG Compliance Test-Adapter
  • E2688A Serielle Datenanalyse-Software
  • N5465A InfiniiSim Waveform Transformation Toolset (optional)
  • N2809A „PrecisionProbe" Oszilloskop-Kabel und Tastkopf-Korrektur-Software (optional)

Erweiterungsmöglichkeiten:

Nutzung des N5467A „Anwender spezifisches Applikations-Werkzeug, um

  • anwenderspezifische Test-Konfigurationen einzubinden und um Variable zu benennen und Korrektur-Informationen einzugeben.
  • externe Applikations-Forderungen und -Berechnungen wie z. B. MATLAB-Skripts oder den Applikations-Controller einbinden zu können.
  • zusätzliche externe Messgeräte in Ihr Testsystem einbinden und konfigurieren zu können
Kurzfristig lieferbar.
Preis auf Anfrage.
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Keysight N5393D | PCI EXPRESS® Software zur Validierung der elektrischen Leistungsfähigkeit und Compliance-Software mit Infiniium-Oszilloskope von Keysight.

Diese Software N5393D PCI EXPRESS bietet eine sehr einfache Methode, um Ihre PCI-EXPRESS-Designs zu validieren. Die zu testenden Module werden automatisiert nach den notwendigen Testbedingungen getestet und Fehler in einer Tabelle dargestellt. Ebenso werden die Tollerranzgrenzen und der Abstand zu diesen Grenzen, als auch eine Pass/Fail-Analyse aufgezeigt, so dass Sie ersehen können, ob marginale Abstände zu den Grenzen evtl. zu einem Problem führen können.

Diese Software N5393D enthält auch Test-Routinen, die es erlauben die Übertragungseinheiten nach PCI EXPRESS 3.0 BASE bei 8 GT/s zu testen, incl. Tests von unkorreliertem Jitter und kalkulierte Entzerrungen und Überschwingen bei entsprechenden Takt-Tests durchzuführen.
Die Testsoftware bietet auch in der Q-Domäne eine Dual-Dirak-Methode für das Separieren von Jitter, gemäß der elektromechanischen Spezifikation PCI EXPRESS 2.0 Card. Die sichert Ihre Gen 2 Messungen und bietet die Übereinstimmung mit den PCI-SIG-Test-Software. Für die GEN1-Messungen kann optional mit der Software N5393D die Taktrückgewinnung nach der offizeillen PCI-SIG-Qualitäts-Test-Methode erfolgen. Für die PCI EXPRESS 3.0-Messungen setzt die Software neue Algorithmen zur Berechnung von PCIe 3.0-spezifischen Parameter ein wie:

  • TX Unit Intervall
  • Full Swing TX Spannung mit: no TxEQ
  • Minimum swing während EIEOS für volle Amplitude
  • TX unkorrelierter Jitter
  • TX unkorrelierter deterministischer Jitter
  • TX unkorrelierter Puls-Breiten-Jitter
  • TX deterministischer DjDD unkorrelierter Puls-Breiten-Jitter
  • TX pseudo-Paket-Verlust
  • Messung der Vorverzerrung und von für TXEQ Voreinstellungen
  • TX DC Gleichtakt-Spannung
  • TX AC Gleichtakt-Spannung - 4 GHz, 300 kHz bis 500 MHz
  • TX absolutes Delta von DC Gleichtakt-Spannungen
  • TX absolutes Delta von DC Gleichtakt-Spannungen während L0 und Leerblöcken (idle)

Zudem enthält die Software für PCIe 3.0 auch einen weiten Bereich nach der PCI-EXPRESS 1.0a, 1.1*, und 2.0 für neue Silikon Zusatzkarten und Geräteplatinen wie sie in dem Kapitel 4 der Dokumentation der Basis- als auch der Card-Spezifikationen enthalten ist.  Ferner enthält sie auch Tests nach Spezifikation PCIe 2.0, um die genauesten Messungen nach den Spezifikationen Gen2 PCI Express durchführen zu können. Messungen mit Amplituden von 800 mV (full swing) als auch die Low-Power-Messungen nach (400mV) gemäß den „PCI EXPRESS Architecture Mobile Graphics Low-Power Addendum" nach „PCI EXPRESS Base Specification Revision 1.0" sind möglich.

Die Option 004 zur Software N5393D unterstützt auch den Setup mit den N4903B JBERT Bitfehler-Messgerät als auch den 81150A Puls-Funktions-Arbiträr-und-Rausch-Generator zum Test der Empfängereinheiten.

Zur Validierung wird auch die Software E2688A „High Speed Serial Data Analysis" benötigt, die CBB oder CLB2-Testaufnahmen als auch ein  Infiniium-Oszilloskop der Serien 90000A (6 GHz oder höher und der Firmware 3.01 oder höher) oder 90000-X als auch die aktiven Oszilloskop-Tastköpfe nebst den zugehörigen SMA/SMP-Kabel. 

Ausstattung und Highlights: 

  • Integrierte automatische  Empfänger-Test-Kalibrierung für N4903B JBERT; verfügbar als Option
  • Test setup-Wizard führt Sie durch die Auswahl an Tests, die Konfigurationen, Verbindungen, die Durchführung und durch das Erstellen von Messprotokollen
  • Die notwendigen Messverbindungen werden auf dem Display aufgezeigt
  • Die Test-Reports enthalten die Test-Konfiguration, die durchgeführten Messungen, pass/fail-Status, eine Analyse, wie weit die Toleranzgrenzen vom Messwert entfernt sind und die Signalformen.
  • Schalt-Lösungen für automatisierte Messabläufe 

Unterstützte Standards:

  • PCI EXPRESS® 1.0, 1.1, 2.0 und 3.0 Tests
  • Weiter Bereich an elektrischen Tests werden unterstützt, deutlich mehr wie in SIG TEST gefordert
  • Testübereinstimmung mit SIG TEST nach 1.0a, 1.1 und 2.0 Analyse
  • Unterstützt den Einsatz und die dadurch bedingten Signalveränderungen von Test-Adaptern und Kabel. Allerdings ist dafür die Software N5465A „InfiniiSim Waveform Transformation Toolset" nötig

Voraussetzungen:

  • PCI-SIG Compliance Test-Adapter
  • E2688A Serielle Datenanalyse-Software
  • N5465A InfiniiSim Waveform Transformation Toolset (optional)
  • N2809A „PrecisionProbe" Oszilloskop-Kabel und Tastkopf-Korrektur-Software (optional)

Erweiterungsmöglichkeiten:

Nutzung des N5467A „Anwender spezifisches Applikations-Werkzeug, um

  • anwenderspezifische Test-Konfigurationen einzubinden und um Variable zu benennen und Korrektur-Informationen einzugeben.
  • externe Applikations-Forderungen und -Berechnungen wie z. B. MATLAB-Skripts oder den Applikations-Controller einbinden zu können.
  • zusätzliche externe Messgeräte in Ihr Testsystem einbinden und konfigurieren zu können

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