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Keysight - DSOX6USBSQ - USB 2.0 Signal Qualitätsanalyse Software für Oszilloskop 6000 X
Keysight - DSOX6USBSQ - USB 2.0 Signal Qualitätsanalyse Software für Oszilloskop 6000 XKeysight - DSOX6USBSQ - USB 2.0 Signal Qualitätsanalyse Software für Oszilloskop 6000 X

Keysight DSOX6USBSQ USB 2.0 Signal Qualitätsanalyse Software für Oszilloskop 6000 X

Keysight (vormals Agilents elektronische Messtechnik) DSOX6USBSQ USB 2.0 Test Option für die InfiniiVision 6000 X-Oszilloskop-Serie. Die Signalqualität der USB 2.0 Schnittstellen sowohl für „Low Speed", &b...
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USB 2.0 Signal Qualitätsanalyse Software für Oszilloskop 6000 X

Keysight (vormals Agilents elektronische Messtechnik) DSOX6USBSQ USB 2.0 Test Option für die InfiniiVision 6000 X-Oszilloskop-Serie.

Die Signalqualität der USB 2.0 Schnittstellen sowohl für „Low Speed", „Full Speed" und „High Speed" ist für eine sichere Verbindung von Geräten im PC/Computer-Bereich aber auch bei embedded Systemen, wie sie in allen technischen Bereichen Anwendung finden, sehr wichtig. Über viele Jahre hinweg wurden Oszilloskope zur Verifikation der Schnittstellen für den USB 2.0-Bus eingesetzt.

Mit der Option DSOX6USBSQ für die Oszilloskope der InfiniiVision-Serie 6000-X sind Sie nun in der Lage die digitalen Signale der Schnittstelle mit einer hohen Abtastrate aufzunehmen, so dass sie wie analoge Signale auf der physikalischen Ebene zu betrachten sind und Sie können sie dadurch auf Einhaltung der Schnittstellenspezifikationen, basierend auf den USB-IF-(IF/Implementers Forum)-Compliance-Standards,  z. B. von Hosts, Hubs und den angeschlossenen Geräten verifizieren.

Die „Low-Speed" und „Full-Speed" USB 2.0 Applikationen können mit allen 2- und 4-kanaligen MSO- oder DSO-Modellen der InfiniiVision 6000 X-Oszilloskop-Serie getestet werden. Zum Test der „High-Speed" Version der USB 2.0 Schnittstelle ist ein 4-kanaliges Gerät mit einer Bandbreite von 1,5 GHz notwendig.

Ausstattung und Highlights:

  • Gut/Schlecht Erkennung basierend auf den Standards für „Low Speed", „Full Speed", „High Speed", „Far-End", „Near-End" und nach Geräte-Spezifikationen
  • Augendiagramm-Messungen in Echtzeit
  • Paired JK- und paired KJ-Jitter-Messungen
  • Sync Test
  • Übersprechen (Spannungsmessung) bei "Low-Speed" und "High-Speed"
  • EOP Bit-Breite
  • Signalisierungsrate
  • Test auf monoton ansteigende/fallende Flanken
  • Test auf monotonen Übergang in die jeweiligen stabilen Zustände
  • Verhältnis der Flanken-Anstiegszeit zur Flanken-Abfallzeit
  • Übereinstimmung der Flankenverhältnisse (nur bei „Low-Speed" und „Full-Speed")
  • Generieren eines HTML Gut/Schlecht-Reports
Kurzfristig lieferbar.
EUR 1.153,00 + MwSt   
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Keysight (vormals Agilents elektronische Messtechnik) DSOX6USBSQ USB 2.0 Test Option für die InfiniiVision 6000 X-Oszilloskop-Serie.

Die Signalqualität der USB 2.0 Schnittstellen sowohl für „Low Speed", „Full Speed" und „High Speed" ist für eine sichere Verbindung von Geräten im PC/Computer-Bereich aber auch bei embedded Systemen, wie sie in allen technischen Bereichen Anwendung finden, sehr wichtig. Über viele Jahre hinweg wurden Oszilloskope zur Verifikation der Schnittstellen für den USB 2.0-Bus eingesetzt.

Mit der Option DSOX6USBSQ für die Oszilloskope der InfiniiVision-Serie 6000-X sind Sie nun in der Lage die digitalen Signale der Schnittstelle mit einer hohen Abtastrate aufzunehmen, so dass sie wie analoge Signale auf der physikalischen Ebene zu betrachten sind und Sie können sie dadurch auf Einhaltung der Schnittstellenspezifikationen, basierend auf den USB-IF-(IF/Implementers Forum)-Compliance-Standards,  z. B. von Hosts, Hubs und den angeschlossenen Geräten verifizieren.

Die „Low-Speed" und „Full-Speed" USB 2.0 Applikationen können mit allen 2- und 4-kanaligen MSO- oder DSO-Modellen der InfiniiVision 6000 X-Oszilloskop-Serie getestet werden. Zum Test der „High-Speed" Version der USB 2.0 Schnittstelle ist ein 4-kanaliges Gerät mit einer Bandbreite von 1,5 GHz notwendig.

Ausstattung und Highlights:

  • Gut/Schlecht Erkennung basierend auf den Standards für „Low Speed", „Full Speed", „High Speed", „Far-End", „Near-End" und nach Geräte-Spezifikationen
  • Augendiagramm-Messungen in Echtzeit
  • Paired JK- und paired KJ-Jitter-Messungen
  • Sync Test
  • Übersprechen (Spannungsmessung) bei "Low-Speed" und "High-Speed"
  • EOP Bit-Breite
  • Signalisierungsrate
  • Test auf monoton ansteigende/fallende Flanken
  • Test auf monotonen Übergang in die jeweiligen stabilen Zustände
  • Verhältnis der Flanken-Anstiegszeit zur Flanken-Abfallzeit
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