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Keysight - 5991-1117EN - Applikationsschrift :: Messungen an geschalteten Netzteilen

Keysight 5991-1117EN Applikationsschrift :: Messungen an geschalteten Netzteilen

Applikations-Schrift: Messungen an geschalteten Netzteilen. Jeder Ingenieur, der damit betraut ist in der Entwicklung oder im Prüffeld geschaltete Netzteile zu entwickeln oder zu vermessen, kennt die Schwierigkei...
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Applikationsschrift :: Messungen an geschalteten Netzteilen

Applikations-Schrift: Messungen an geschalteten Netzteilen.
Jeder Ingenieur, der damit betraut ist in der Entwicklung oder im Prüffeld geschaltete Netzteile zu entwickeln oder zu vermessen, kennt die Schwierigkeiten mithilfe eines Oszilloskops oder anderer Messgeräte die unterschiedlichsten (s. Liste unten) Messungen korrekt durchzuführen.
Die Applikationsschrift beginnt mit der Beschreibung zur Aufnahme der Korrekturfaktoren für die Stromzange(n), mit dem Abgleich der Tastspitzen und bereits mit der generellen Frage welche Tastköpfe überhaupt in Frage kommen.
Für die unterschiedlichen Messungen müssen die entsprechenden Einstellparameter des Oszilloskops, die Triggerbedingungen und die für manche Messwerte auch notwendige Mathematik richtig ausgesucht und eingestellt werden.

Eine sehr praktische Hilfe gibt die Applikationsschrift, die speziell für die Oszilloskope der InfiniiVision-Serie 3000 X und dem 4000 X zur Verfügung steht. Darin wird beschrieben, wie folgende Messungen und Leistungs-Analysen an einem Schaltnetzteil durchgeführt werden können:

Eingangsanalyse: 

  • Leistungsparameter auf der Primärseite wie:
        # Wirkleistung
        # Scheinleistung
        # Blindleistung
        # Leistungsfaktor
        # Crest-Faktor für Spannung und Strom
        # Verlustwinkel
  • Harmonische und deren Amplitude auf der Primärseite um den Netz-Konformitäts-Bestimmungen zu genügen
  • Einschaltstrom
  • Schalt-/Harmonische -/Modulations-Analyse
  • Schaltverluste während der Schaltphasen (ein / aus)  des aktiven Elementes (meist FETs)
  • Schaltzeiten
  • Anstiegs- und Abfall-Zeiten incl. dem Einschwingverhalten
  • Modulationsanalyse zur Bestimmung des Einflusses  der Pulsweiten-Modulation auf das aktive Schaltelement zur dynamischen Spannungsregelung

Ausgangsanalyse:

  • Ausgangs-Restwelligkeit
  • Ein- / Aus-Schaltverhalten der sekundärseitigen Spannungsversorgung
  • Transienten-Analyse bei Laständerungen
  • Power Supply Rejection Ratio (PSWR) oder auch „Power Supply Ripple Rejection" genannt, zeigt die Fähigkeit eines SMPS auf, wie primärseitige Eingangswelligkeit ausgeregelt werden kann. 
  • Effektivität / Wirkungsfaktor  

Notwendige Messgeräte und Hilfsmittel: 

  • Keysight (vormals Agilents elektronische Messtechnik) InfiniiVision Oszilloskop der Serie 3000 X mit der Option DSOX3PWR oder 4000 X mit der Optionen DSOX4PWR
  • U1880A Entzerrer zum Abgleich der Stromzange und der differentiellen Tastköpfe
  • SMPS (Sitched Mode Power Supply) Trainings-kit
  • N2790A Hochvolt Differentieller Tastkopf oder ein äquivalenter Typ
  • 1147B 15 A Stronzange oder ein äquivalenter Typ
  • 10:1 passiver Tastkopf
  • SMPS (Switch Mode Power Supply) oder Keysight (vormals Agilents elektronische Messtechnik)'s SMPS Measurements Trainings Kit
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Kostenfrei
 
   

Applikations-Schrift: Messungen an geschalteten Netzteilen.
Jeder Ingenieur, der damit betraut ist in der Entwicklung oder im Prüffeld geschaltete Netzteile zu entwickeln oder zu vermessen, kennt die Schwierigkeiten mithilfe eines Oszilloskops oder anderer Messgeräte die unterschiedlichsten (s. Liste unten) Messungen korrekt durchzuführen.
Die Applikationsschrift beginnt mit der Beschreibung zur Aufnahme der Korrekturfaktoren für die Stromzange(n), mit dem Abgleich der Tastspitzen und bereits mit der generellen Frage welche Tastköpfe überhaupt in Frage kommen.
Für die unterschiedlichen Messungen müssen die entsprechenden Einstellparameter des Oszilloskops, die Triggerbedingungen und die für manche Messwerte auch notwendige Mathematik richtig ausgesucht und eingestellt werden.

Eine sehr praktische Hilfe gibt die Applikationsschrift, die speziell für die Oszilloskope der InfiniiVision-Serie 3000 X und dem 4000 X zur Verfügung steht. Darin wird beschrieben, wie folgende Messungen und Leistungs-Analysen an einem Schaltnetzteil durchgeführt werden können:

Eingangsanalyse: 

  • Leistungsparameter auf der Primärseite wie:
        # Wirkleistung
        # Scheinleistung
        # Blindleistung
        # Leistungsfaktor
        # Crest-Faktor für Spannung und Strom
        # Verlustwinkel
  • Harmonische und deren Amplitude auf der Primärseite um den Netz-Konformitäts-Bestimmungen zu genügen
  • Einschaltstrom
  • Schalt-/Harmonische -/Modulations-Analyse
  • Schaltverluste während der Schaltphasen (ein / aus)  des aktiven Elementes (meist FETs)
  • Schaltzeiten
  • Anstiegs- und Abfall-Zeiten incl. dem Einschwingverhalten
  • Modulationsanalyse zur Bestimmung des Einflusses  der Pulsweiten-Modulation auf das aktive Schaltelement zur dynamischen Spannungsregelung

Ausgangsanalyse:

  • Ausgangs-Restwelligkeit
  • Ein- / Aus-Schaltverhalten der sekundärseitigen Spannungsversorgung
  • Transienten-Analyse bei Laständerungen
  • Power Supply Rejection Ratio (PSWR) oder auch „Power Supply Ripple Rejection" genannt, zeigt die Fähigkeit eines SMPS auf, wie primärseitige Eingangswelligkeit ausgeregelt werden kann. 
  • Effektivität / Wirkungsfaktor  

Notwendige Messgeräte und Hilfsmittel: 

  • Keysight (vormals Agilents elektronische Messtechnik) InfiniiVision Oszilloskop der Serie 3000 X mit der Option DSOX3PWR oder 4000 X mit der Optionen DSOX4PWR
  • U1880A Entzerrer zum Abgleich der Stromzange und der differentiellen Tastköpfe
  • SMPS (Sitched Mode Power Supply) Trainings-kit
  • N2790A Hochvolt Differentieller Tastkopf oder ein äquivalenter Typ
  • 1147B 15 A Stronzange oder ein äquivalenter Typ
  • 10:1 passiver Tastkopf
  • SMPS (Switch Mode Power Supply) oder Keysight (vormals Agilents elektronische Messtechnik)'s SMPS Measurements Trainings Kit

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