Agilent 81160A-002 | 2-Kanal Puls-, Funktions-, Arbiträrsignal- und Rauschgenerator bis 500MHz.
Drei auf einen Streich: Puls-, Funktions-Arbiträr- und Rausch-Generator - der 81160A. Easy für den 81160A real-world-Signale zu erzeugen - zum Test Ihrer Schaltungen und Systeme!
Schnelle, genaue, wiederholbare Signale ohne langen Programmieraufwand, alles in einer Box! So testen Sie Ihre Schaltung effizient und zielsicher. Dadurch wird der 81160A unentbehrlich in Ihrem Labor oder in Ihrem Prüffeld.
Ein Puls-, Funktions-Arbiträr- und Rausch-Generator - all das verbirgt sich in dem 81160A. Daher haben Sie in Ihrem Prüffeld keinen „Kabelverhau", sondern durch Ihr Prüfprogramm alles unter Kontrolle. Stresstest Ihrer Schaltung oder Ihres Systems ist damit einfacher geworden. Der 81160A bietet eine Vielzahl von Signalformen, überlagert von anderen definierbaren Störsignalen und Rauschen. Kombinationen dieser Signale bieten dem Ingenieur einen besseren Einblick über das Verhalten seines Designs und auch eine bessere Ausnutzung der Spezifikationsgrenzen.

Der 81160A bietet:

• als Pulsgenerator präzise Signale zur Verifikation und zum Test der Systemeigenschaften
• als Funktions-Arbiträr-Generator die Erzeugung vielfältiger Signale, um Tests zu optimieren
• Modulationen und Veränderung der Signale, um die Spezifikationen des DUT (device under test) zu messen und das DUT an die Leistungsgrenze bringen zu können
• als Rauschgenerator Signalverzerrungen, damit „worst case"-Szenarios simuliert werden können
• mit dem optional erhältlichen Bitmuster-Generator Sequenzen, um zusätzlich zu analogen, digitalen und gemischten (mixed signal) Schaltungen diese mit real-world-Signalen beaufschlagen und testen zu können

Ausstattung und Highlights:

• 1 μHz - 330 MHz Pulsfrequenz mit variabler Anstiegs- und Abfall-Zeit
• 1 μHz - 500 MHz Sinus
• 14-bit-Auflösung, 2.5 GSa/s arbiträre Signalformen
• Signallänge 256k (Speichertiefe) für die arbiträre Signalform pro Kanal
• Puls, Sinus, Rechteck, Rampen, Rauschen und arbiträre Signalformen
• Rauschen mit einem einstellbaren crest factor (Verhältnis von Spitzen- zu Effektivwert) und einer         
  Signalwiederholrate von bis zu 20 Tagen
• FM, AM, PM, PWM, FSK-Modulation
• 2-Kanal-Version, gekoppelt oder ungekoppelt 
• differentielle Ausgänge:
  - Amplitude: bei 50 Ω in 50 Ω: 50 mVpp bis 5 Vpp
                         bei 50 Ω in offen: 100 mVpp to 10 Vpp
  - Spannungs-Fenster: bei 50 Ω in 50 Ω: ± 5 V
                                         bei 50 Ω in offen: ± 10 V
• störungsfreier (glich free) Wechsel bei Zeitparameteränderungen (delay, frequency, transition time, width, duty cycle)
• Programmiersprache/-befehle kompatibel zu Agilent 81101A, 81104A, 81105A , 81110A, 81130A und 81150A
• Kalibrierung nach ISO 17025 und Z540.3
• konform zu LXI class C
• optionaler Bitmuster-Generator:
  - ideale und arbiträr gestaltete Bitmuster bis zu 330 Mbit/s (Option 330) oder 660 Mbit/s (Option 660)
  - Signale mit Dreiwertigkeit
  - PRBS bis zu 2^31
  - 4 Mbit Bitmusterspeicher für die 1-Kanal-Version und 2 Mbit pro Kanal für die 2-Kanal-Version
  - Durchschleifen extern angelegter Bitmuster mit entsprechender Veränderung des Ausgangssignals (z. B. zusätzliches Rauschen) zum Test von Protokollen bis zu 10 Mbit/s
• Schnittstellen: 2 x USB 2.0 Standard A, 1 x USB 2.0 Standard B, GPIB und LAN
• Abmessungen: 439 mm x 108 mm x 456 mm
• Mitgeliefertes Zubehör:
  Kalibrierungszertifikat, Netzkabel, USB-Kabel, Agilent "automation ready"-CD (Agilent I/O Library, IVI-COM Treiber), Produkt CD (Bedienungsanleitung, Informationen zur ersten Inbetriebnahme)
• Agilent 81160A Optionen:
  Option 1A7 | mitgelieferte ISO 17025 Kalibrierungs-Dokumente
  Option Z54 | mitgelieferte Z540.3 Kalibrierungs-Dokumente
  Option 330 | Lizenz für einen 330 Mbit/s Bitmuster-Generator
  Option 660 | Lizenz für einen 660 Mbit/s Bitmuster-Generator

Anwendungsbereiche:

• Allgemeine Anwendungen in der Entwicklung und im Produktions-Prüffeld
• Rauschtests von Übertragungsprotokollen, z. B. SATA, LAN, WAN etc.
• Radartechnologie zur Simulation von Radar-Empfängern oder -Transmittern
• Satellitentechnik
• IC-Technologie 
• Rausch- und Jitter-Verträglichkeits-/Toleranz-Messungen
• Luft- und Raumfahrt, Wehrtechnik
• Test von Sensoren und Alarmsystemen

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